Análisis de la capa física del SDI
HD-SDI avanzado - 12G-SDI Análisis de la capa física
El uso de altas velocidades de datos para HD-SDI, 3G-SDI, 6G-SDI y 12G-SDI, las largas longitudes de cable y los métodos de codificación que se utilizan ahora de forma habitual han dado lugar a una transferencia de datos susceptible de sufrir fluctuaciones que pueden corromper los datos de forma drástica.
Para gestionar y cuantificar esta susceptibilidad, las técnicas de medición que utilizan las pantallas de patrones oculares se han vuelto cada vez más importantes.
Uno de los retos a los que se enfrentan los ingenieros en un entorno de radiodifusión es la medición y la supervisión de la calidad de la señal de 3G-SDI hasta 12G-SDI en toda la cadena de producción.
Disponible en los instrumentos de las series Qx , Rx Series y SxE , la prueba de la capa física en tiempo real es ideal para destacar cualquier problema de conformidad con la SMPTE, la comprobación de la línea o la puesta en marcha del producto.
PHABRIX Soluciones para el análisis de la capa física
Qx SERIE - ANÁLISIS DE LA CAPA FÍSICA DE HASTA 12G-SDI
El conjunto de herramientas para la capa física de la serie Qx es una opción equipada de fábrica para la rápida puesta en marcha, prueba y desarrollo de la capa física 12G/6G/3G/HD-SDI. Su tecnología RTE™ (Real-Time Eye) resalta instantáneamente cualquier problema de cumplimiento de SMPTE y su ventana de jitter SDI en tiempo real proporciona un monitoreo simultáneo a través de cinco bandas de frecuencia especificadas, histograma de jitter y opciones de disparo de video. Se incluye en la opción una gama completa de mediciones oculares SDI, incluyendo amplitud, desplazamiento DC, tiempos de transición y sobreimpulso e indicación de salud con histogramas tanto de amplitud como de tiempo, así como elección de color, superposición de mapas de calor y visualización de persistencia infinita.
SERIE Rx - ANÁLISIS DE OJO Y JITTER DE 4 CANALES
Las herramientas de diagnóstico avanzadas incluyen hasta cuatro instrumentos de análisis de la capa física en tiempo real Eye™ y Jitter, además de subtítulos, volumen y monitoreo Dolby®. Esto hace que la serie Rx sea ideal para camiones de obstetricia, instalaciones de radiodifusión y fabricantes de tecnología de vídeo.
SxE - PRUEBA DE LA CAPA FÍSICA DEL OJO EN TIEMPO REAL 3G-SDI EN UN DISPOSITIVO DE MANO
Ideal para la comprobación de la línea de la capa física SDI, la puesta en marcha y las pruebas, el SxE es único en ofrecer una rápida visualización y análisis de las interfaces físicas 3G/HD/SD-SDI con un sofisticado conjunto de herramientas de medición de ojo en tiempo real y de fluctuaciones.
Qx SERIE - PRUEBAS AVANZADAS DE ESTRÉS SDI
La opción avanzada SDI-STRESS está disponible para pruebas de estrés y evaluaciones de I+D de interfaces SDI de hasta 12G. La opción incluye la capacidad, bajo control de automatización, de insertar hasta 128UI de pico a pico de fluctuación del reloj SDI de 10Hz a 10MhZ, silenciar cualquiera de las salidas SDI y controlar el codificador SDI, la inserción de bits de sincronización, la preénfasis, el tiempo de subida y la amplitud del conductor. La medición de la amplitud del ojo SDI-STRESS proporciona tanto la media corta como el modo, con una superposición de histograma y una ventana definida por el usuario para la exploración de la amplitud del ojo. La generación de secuencias binarias seudo-aleatorias (PRBS) y el análisis de PRBS-7, 9, 15, 23, 31 permite la medición determinística de la tasa de error de bits de enlace (BER).
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Usando secuencias binarias pseudo-aleatorias para probar el estrés de las interfaces digitales seriales
En este libro blanco, PHABRIX analiza el uso de secuencias binarias pseudoaleatorias (PRBS - también conocidas como secuencias de bits pseudoaleatorios), junto con pruebas de tasa de error de bits (BERT - también conocidas como pruebas de proporción de errores de bits) para probar las interfaces digitales seriales. El propósito de cualquier interfaz digital en serie de capa física (PHY) es transmitir o recibir datos mientras se preserva la integridad de los mismos. En
sistemas prácticos la principal causa de los errores de bits es el ruido aleatorio. Para probar estos sistemas, es necesario generar un flujo de bits "ruidoso" y luego analizar la salida de la interfaz para determinar la tasa de errores de bits que representa la integridad de los datos.
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