SDI物理层分析
高级HD-SDI - 12G-SDI物理层分析
HD-SDI、3G-SDI、6G-SDI和12G-SDI的高数据速率、长电缆长度和现在普遍使用的编码方式,导致数据传输容易出现抖动,从而使数据急剧损坏。
为了管理和量化这种敏感性,使用眼型显示器的测量技术变得越来越重要。
广播环境中的工程师面临的一个挑战是在整个生产链中测量和监测3G-SDI到12G-SDI的信号质量。
Qx 系列、Rx 系列和SxE 仪器中都有,Real-Time-Eye 物理层测试是突出任何 SMPTE 合规性问题、线路检查或产品调试的理想选择。
PHABRIX 物理层分析解决方案
Qx 系列-高达12G-SDI物理层分析。
Qx 系列的物理层工具集是工厂安装的选件,用于快速的12G/6G/3G/HD-SDI物理层调试、测试和开发。其RTE™(实时眼)技术可立即突出任何SMPTE合规性问题,其实时SDI抖动窗口可在五个指定频段、抖动直方图和视频触发选项中提供同步监测。选件中包括全方位的SDI眼测量,包括振幅、DC偏移、过渡时间和过冲,以及带有振幅和时间直方图的健康指示,以及颜色选择、热图覆盖和无限持续显示。
SxE - 3G-SDI实时眼球物理层测试在手持设备中的应用。
它SxE 是SDI物理层线路检查、调试和测试的理想选择,在提供快速显示和分析3G/HD/SD-SDI物理接口方面是独一无二的,具有先进的实时眼和抖动测量工具集。
相关产品
白皮书:使用伪随机二进制序列对串行数字接口进行压力测试。
在这份白皮书中,PHABRIX ,讨论了使用伪随机二进制序列(PRBS--也称为伪随机位序列),以及位错误率测试(BERT--也称为位错误率测试)来对串行数字接口进行压力测试。任何物理层串行数字接口(PHY)的目的是传输或接收数据,同时保持数据的完整性。在
在实际系统中,位错误的主要原因是随机噪声,为了对这些系统进行压力测试,有必要产生"噪声"位流,然后分析接口的输出,以确定代表数据完整性的位错误率。为了对这种系统进行压力测试,必须同时产生一个"有噪声"的比特流,然后分析接口的输出,以确定代表数据完整性的比特错误率。
让我们保持联系
找到我们,关注我们,保持联系
我们的最新消息直接发送到您的收件箱
产品、软件、活动及其他