SDI物理层分析

高级HD-SDI - 12G-SDI物理层分析

HD-SDI、3G-SDI、6G-SDI和12G-SDI的高数据速率、长电缆长度和现在普遍使用的编码方式,导致数据传输容易出现抖动,从而使数据急剧损坏。

为了管理和量化这种敏感性,使用眼型显示器的测量技术变得越来越重要。

广播环境中的工程师面临的一个挑战是在整个生产链中测量和监测3G-SDI到12G-SDI的信号质量。

Qx 系列、Rx 系列和SxE 仪器中都有,Real-Time-Eye 物理层测试是突出任何 SMPTE 合规性问题、线路检查或产品调试的理想选择。

PHABRIX 物理层分析解决方案

Qx 系列-高达12G-SDI物理层分析。

Qx 系列的物理层工具集是工厂安装的选件,用于快速的12G/6G/3G/HD-SDI物理层调试、测试和开发。其RTE™(实时眼)技术可立即突出任何SMPTE合规性问题,其实时SDI抖动窗口可在五个指定频段、抖动直方图和视频触发选项中提供同步监测。选件中包括全方位的SDI眼测量,包括振幅、DC偏移、过渡时间和过冲,以及带有振幅和时间直方图的健康指示,以及颜色选择、热图覆盖和无限持续显示。

Rx系列 - 4通道眼和抖动分析

先进的诊断工具包括多达四个同步的实时Eye™和抖动物理层分析仪器,以及闭合字幕、响度和杜比®监控。这使得Rx系列成为转播车、广播设施和视频技术制造商的理想选择。

SxE - 3G-SDI实时眼球物理层测试在手持设备中的应用。

它SxE 是SDI物理层线路检查、调试和测试的理想选择,在提供快速显示和分析3G/HD/SD-SDI物理接口方面是独一无二的,具有先进的实时眼和抖动测量工具集。

Qx - 高级SDI应力测试系列

高级SDI-STRESS选件可用于高达12G的SDI接口的压力测试和研发评估。该选件包括在自动化控制下插入高达128UI的峰值至峰值SDI时钟抖动(从10Hz到10MhZ)、静音任何SDI输出,以及控制SDI扰频器、同步位插入、预加重、上升时间和驱动器振幅的能力。SDI-STRESS眼振幅测量提供Shorth Mean或Mode两种模式,并有直方图叠加和用户自定义窗口,用于探索眼振幅。伪随机二进制序列(PRBS)的生成和PRBS-7、9、15、23、31的分析允许对链路误码率(BER)进行确定性测量。

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白皮书:使用伪随机二进制序列对串行数字接口进行压力测试。

在这份白皮书中,PHABRIX ,讨论了使用伪随机二进制序列(PRBS--也称为伪随机位序列),以及位错误率测试(BERT--也称为位错误率测试)来对串行数字接口进行压力测试。任何物理层串行数字接口(PHY)的目的是传输或接收数据,同时保持数据的完整性。在
在实际系统中,位错误的主要原因是随机噪声,为了对这些系统进行压力测试,有必要产生"噪声"位流,然后分析接口的输出,以确定代表数据完整性的位错误率。为了对这种系统进行压力测试,必须同时产生一个"有噪声"的比特流,然后分析接口的输出,以确定代表数据完整性的比特错误率。

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