Fertigung

Sicherstellen, dass F&E und Fertigung während der Produktentwicklungsprüfung und der laufenden Konformitätsprüfung der Fertigung über die anspruchsvollen Werkzeuge verfügen

PHABRIX bietet außergewöhnliche "hauseigene" Test- und Messlösungen für die Produktentwicklung und Technologieherstellung.

Eine konforme Quellengenerierung, Analyse der physikalischen Schicht und Stresstests der E/A-Schnittstellen sind gängige Schlüsselanforderungen für eine anspruchsvolle interne Produktentwicklung. Es ist wichtig, dass die unterstützende Technologie eine intuitive Multi-Instrumenten-Analyse bietet, um die Effizienz und Produktivität während der Entwicklungsphase zu optimieren.

Mit der stetigen Migration der Branche von traditionellen HD-SDI- zu 12G-SDI-Infrastrukturen, HDR/WCG- und IP-Lösungen stehen die Hersteller von Videotechnologie nun vor der großen Herausforderung, eine Vielzahl von Formaten und neuen Standards einhalten zu müssen.

Es ist von entscheidender Bedeutung, dass Test- und Messinstrumente eine automatisierte Überprüfung der Einhaltung mehrerer Standards, skriptgesteuerte automatische Tests und Fehlerberichte bieten, um kostengünstige, effiziente und zuverlässige Testumgebungen zu gewährleisten. 

Hauptmerkmale

Schnelle, automatisierte 12G-SDI-Analyse der physikalischen Schicht und erweiterte SDI-Belastungstests

Das Physical-Layer-Toolset der Serie Qx bietet schnelle 12G/6G/3G/HD-SDI-Physical-Layer-Tests, wobei die RTE™ (Real-Time Eye)-Technologie alle Probleme mit der SMPTE-Konformität sofort aufzeigt. Eine fortschrittliche SDI-STRESS-Option ist für Stresstests von SDI-Schnittstellen mit bis zu 12G verfügbar. Die Serie Qx verfügt über eine integrierte Automatisierungssteuerung, mit der skriptgesteuerte Tests schneller, zuverlässiger und kostengünstiger durchgeführt werden können.

Handmessgeräte für fortgeschrittene Prüfungen der physikalischen Schicht und der Konformität

Für Fertigungsumgebungen, die ein hohes Maß an Portabilität erfordern, bietet die Sx-Serie von PHABRIXhybride IP/SDI-Tests sowie erweiterte Tests der physikalischen Schicht. Die sofort verfügbare RTE™ (Real-Time Eye)-Technologie, die unter SxE verfügbar ist, beschleunigt die Prüfung der Bitübertragungsschicht und bietet automatisierte Messungen und Protokollierung für Schlüsselparameter. Die Sx-Serie unterstützt über 350 Formate für die Konformitätsüberwachung und bietet eine TCP/IP-Schnittstelle für Fernsteuerung und automatisierte Tests.

2K/3G/HD/SD-Einzelinstrument-Lösungen zur Rackmontage für Rundfunkhersteller

Der Rx ist in 2U- und 1U-Rackeinbauprofilen erhältlich und wird bereits bei vielen Broadcast-Herstellern auf der ganzen Welt installiert. Mit seinem kombinierten Video- und Audio-Toolset bietet der Rx eine schnellere intermittierende Fehlerdiagnose mit Video- und Audioerfassung mit automatischer Triggerung, bis zu 4-Kanal-Analyse der physikalischen Schicht zur Prüfung von SMPTE-Konformitätsproblemen sowie eine TCP/IP-Schnittstelle für Fernsteuerung, automatisierte Tests und Testberichte.

VERWANDTE PRODUKTE

WHITEPAPER: Verwendung pseudozufälliger Binärsequenzen zur Belastungsprüfung serieller digitaler Schnittstellen

In diesem Whitepaper erörtert PHABRIX die Verwendung von pseudozufälligen binären Sequenzen (PRBS - auch als pseudozufällige Bitsequenzen bezeichnet) zusammen mit Bitfehlerratentests (BERT - auch als Bitfehlerratentests bezeichnet) zum Stresstest serieller digitaler Schnittstellen. Der Zweck jeder seriellen digitalen Schnittstelle der physikalischen Schicht (PHY) besteht darin, Daten zu übertragen oder zu empfangen und gleichzeitig die Integrität dieser Daten zu erhalten.

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